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Q2237+0305(イエンスタインクロス)のX‑ショーターを使用して、3000 Å〜20000 Å の最広範囲のスペクトルが取得されました。長波長でのカラミクロライニングと短波長での連続体のフラックス比を測定し、差分を用いることで、マイクロライニングの色依存性を基調に抽出しました。
薄いディスクモデル(I(R)∝exp(−R²/2r_s²))とサイズ―波長関係 r_s∝λᵖ を想定して、Kochanek(2004) の κ と γ(A:0.394,0.395; B:0.375,0.390; C:0.743,0.733; D:0.635,0.623)を入力し、逆多角法(IPM)でマイクロライニング放大図を生成しました。
| Q2237+0305 | A | B | C | D |
| κ | 0.394 | 0.375 | 0.743 | 0.635 |
| γ | 0.395 | 0.390 | 0.733 | 0.623 |
三つの独立した色依存マイクロライニング測定の結合尤度解析により、対数サイズ ln r_s = 1.59⁺⁰.⁸³₋⁰.⁹6 (lt‑day) とパワー指数 p = 0.77⁺⁰.⁴⁷₋⁰.²8 が得られました。これは標準薄いディスクモデルの p = 4/3 から顕著に差し、ディスクが小型で温度勾配が緩やかであることを示唆します。



本研究では、イメージ C と A との差分でエクステンションがほとんど無いことを確認し、光学連続体でのマイクロライニングの色依存性は確実に観測されましたが、Ly α と C IV の線羽におけるマイクロライニングは低い信号対雑音と大気吸収の影響で確定的な結論を得られませんでした。